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ABN-AFM-001是一款高精度、多功能的原子力顯微鏡，專為納米級表面形貌和分析設(shè)計。該設(shè)備支持多種掃描模式，能
夠提供高分辨率的表面成像，分辨率達(dá)到10納米。其標(biāo)準(zhǔn)掃描范圍為X-Y方向70μm x 70μm，適用于多種材料表面分析，能夠
精確測量納米級的表面細(xì)節(jié)。
設(shè)備配備高性能的傳感器，支持快速掃描，掃描頻率可達(dá)到10Hz，提供高效率的數(shù)據(jù)采集能力。該系統(tǒng)的設(shè)計確保了長
時間的穩(wěn)定性與可靠性，尤其在工業(yè)和科研應(yīng)用中表現(xiàn)出色。
ABN-AFM-001具有直觀的用戶界面（GUI），支持多種數(shù)據(jù)分析功能。它能夠以高精度工作，并可適應(yīng)環(huán)境溫度變化，具
備±15°C的溫度穩(wěn)定性，滿足高精度要求的實驗環(huán)境。設(shè)備支持USB與RS-232接口，方便與計算機(jī)系統(tǒng)進(jìn)行遠(yuǎn)程控制和數(shù)據(jù)分
析。